未來已來,高精度檢測怎么少得了高精度數顯高度計

未來已來,高精度檢測怎么少得了高精度數顯高度計

3C電子產品中的蘋果手機，手機殼的尺寸公差要求不超過20μm，小配件公差則是2μm。

新莽時期我國發明了游標卡尺，比十七世紀的歐洲發明早了1600年。后來出現的千分尺和千分表，精度能夠達到0.001mm（1μm），人類對尺寸的度量已經很精細。但是這類量具測量效率低、誤差大、可以測量的工件尺寸有限。

隨著現代加工的發展，對于精度要求越來越高，如何做好品控，提高產品合格率，提升效率成為頭等問題。而這個問題的第一步則是如何確保測量的準確和精度。東野儀器代理的Mikrometry數顯高度計采用了高精度傳感器和精密導軌，精度穩定、手感順暢，快速測量時不跳數；顯示器采用綠色高亮度數碼管，顯示清晰，色彩柔和，長時間使用操作者不易疲勞。臺架采用陶瓷作為測量基準臺，精密耐用。